SATWIKO S., Satwiko S. Penentukan Indeks Bias Lapisan Tipis dengan menggunakan Ellipsometer: Satwiko S. Jurnal Fisika dan Aplikasinya, [S. l.], v. 5, n. 2, 2025. DOI: 10.12962/jfa.v5i2.3942. Disponível em: https://journal.its.ac.id/index.php/jfa/article/view/3942. Acesso em: 31 jul. 2026.