Satwiko S., Satwiko S. “Penentukan Indeks Bias Lapisan Tipis Dengan Menggunakan Ellipsometer: Satwiko S”. Jurnal Fisika dan Aplikasinya 5, no. 2 (May 8, 2025). Accessed July 31, 2026. https://journal.its.ac.id/index.php/jfa/article/view/3942.